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理学 ZSX Primus 多道型波长色散型X射线荧光光谱仪
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的
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理学 ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus沿袭了及时提供精确结果的传统,无与伦比的可靠性,灵活性和简便性适合当今实验室的各种挑战。随着理学的经验不断超越用户的期望,ZSX
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理学 ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus IV 采用上照射设计,不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 具有双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分
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理学 ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方,减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。可在慢速和快速
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理学 ZSX Primus IV连续波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪
ZSX Primus IVRigaku ZSX Primus IV是一种管式以上的连续波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪,可以快速定量测定铍(Be)到铀(U)中的主要和次要原子元素,样本
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理学 ZSX Primus III+ 波长色散型X射线荧光光谱仪 软磁材料分析
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF 微量样品分析
理学(Rigaku)公司创建于1950年,是世界上研制和生产X射线科学分析仪器的开拓者之一,其产品涉及粉末衍射、单晶衍射、应力分析、结构解析、半导体缺陷、电池分析、X射线全反射、单道/多道WDXRF
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF Be - U元素分析
ZSX Primus/ZSX Primus IVi采用下照射方式,通过搭载无盖样品盒机构最多可装填104个样品,从而进行多个样品的连续测量。可在观察样品图像的同时进行分析位置的指定和Mapping
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理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。Rigaku ZSX Primus
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MXF-N3 Plus波散型XRF多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪 波长色散型X射线荧光光谱仪XRF
点击查看下载MXF-N3 Plus波散型XRF多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪 波长色散型X射线荧光光谱仪XRF相关资料,进一步了解产品。 MXF-N3 Plus 电源保护Plus防尘设计岛津
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